GB/T 2423.16-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導則：長霉  本標準規(guī)定了確定電子產(chǎn)品上長霉程度和長霉對產(chǎn)品特性及其他相關(guān)性能影響的試驗方法

標準號：GB/T 2423.16-2008

發(fā)布日期：2008-12-30

實施日期：2009-10-01

廢止日期：暫無

頒發(fā)部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局中國國家標準化管理委員會

本標準適用于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

權(quán)威：雙C資質(zhì)，公正權(quán)威，具有法律效力

可靠：國科控股旗下的獨立第三方檢測機構(gòu)

精準：各項檢測能力驗證全部滿意

全面：涉及各行各業(yè)的各項檢測項目

中科檢測是行業(yè)認可，資質(zhì)齊全的大型研究型檢測機構(gòu)，硬件實力強，標準化實驗室，強大儀器平臺和數(shù)據(jù)庫、經(jīng)驗豐富技術(shù)團隊擁有60余年技術(shù)沉淀、專注產(chǎn)品及材料分析測試，完善的技術(shù)解決方案，專業(yè)的技術(shù)服務團隊，檢測服務遍布全國